Drucken
FA 10
plan
NEU
Zuverlässigkeit niedrigschmelzender Weichlote auf SnBiX-Basis in der Elektronikfertigung mit ganzheitlicher Lötbarkeitsbetrachtung unter Berücksichtigung von Wirkmechanismen an den Grenzflächen
IGF-Vorhaben-Nr.:
01IF24681N
Laufzeit:
01.01.2026
-
31.12.2027
Forschungseinrichtungen:
- Siliziumtechnologie (ISIT)
- Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM
Fachgebiete:
,
,
Wirtschaftszweige:
,
,